作为一种辅佐光源，可用于被测物外表平坦的情况下。依据同轴光源的特色，只要平坦的物面才干较好的将光反射到镜头中。不平坦的物面上的光被斜着反射到别的的当地，因而会在图画中出现暗色。因而那些不平坦的当地，才干够较好的凸显出来。

  光源经过漫射板发散打到半透半反射分光片上，该分光片将光反射到物体上，再由物体反射到镜头中。因为物体反射后的光与相机处于同一个轴线上，因而，此种方法的光源被称之为同轴光源。它有两大作用：

  因为其特别的光学规划，能够一起挑选射向物方和像方的光线，运用妥当能够让机器视觉检测更方便快捷明晰。

  同轴光不能离物体太近，否则会因为其发光面的漏光而导致光面不是漫射的均匀光。因为中心有块半透半反射玻璃，且当同轴光用于物体和镜头之间时，会影响成像的精度。其或许会引起边际变虚，不行锋利。

  CCS的LFV3系列，运用半透镜，可使LED扩散光落射在相对于相机轴的同轴上。

  如上图所示，被测物金属端口维护盖在运用条形光源时难以读取外表的刻印字符，而应同轴光源LFV3-50RD（A）时，能按捺外表凹凸的影响，使刻印字符明晰的成像。

  如上图所示，被测物基板在运用环形光源时难以使底层与通孔之间差异成像，而应同轴光源LFV3-100RD（A）时，能够使底层与通孔之间差异明晰的成像。

  同轴光源一般是使用在反光平面划痕检测、包装条码辨认，烤瓷外表检测、平面瑕疵检测、金属板外表检测、PCB板引导定位等。例如芯片、晶片外表检测，一维码、二维码辨认，物体外表划伤，文字等检测，金属外表、轴承、饮料罐上刻印字符检测，MARK点定位等等。

  在工业检测、自动化、电子通讯、半导体、生物医疗、科学研究等范畴运用广泛。

  检测中的优势 /

  的使用实例 /

  职业。检测体系作用的体现，在于算法的处理和剖析优化。算法处理的根底在于

  的调配和挑选 /

  体系包含哪些部分？ /

  职业研究报告 /

  有什么特色呢？ /

  照明计划 /

  中偏振片的使用 /

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